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TPYLR-500型椭偏仪冷热台

TPYLR-500型椭偏仪冷热台,方便和椭偏仪结合实现高低温测量。另外配套安装底板,方便和椭偏仪位移台结合;配套:A2403(偏仪安装板);

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  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2025-03-11
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产品详情

TPYLR-500椭偏仪冷热台

 椭偏仪作为一种非破坏性、高精度的光学表征设备,广泛应用于薄膜厚度、折射率、吸收系数等材料参数的测量。然而,椭偏仪的测量精度往往受限于外界环境的温度变化,特别是在对温度敏感的材料测试中,温度的波动可能导致测量结果的不准确。因此,配备冷热台成为提升其性能和稳定性的一种重要手段。本文将探讨椭偏仪冷热台的作用、优势以及其在光学研究中的重要性。

  1. 椭偏仪的工作原理与挑战

  椭偏仪通过测量光线反射或透过样品后偏振态的变化,来获得材料的光学性质。这些测量通常涉及到不同温度条件下材料的光学行为,因此,温度波动可能影响光学性质的稳定性,进而影响测试结果的准确性。例如,在研究某些温度敏感材料(如半导体薄膜、太阳能电池材料等)时,温度的微小变化可能会导致折射率和厚度等参数的变化,从而影响最终的分析结果。

  为了克服这一问题,使用冷热台对仪器进行温控,能够在测试过程中稳定温度,确保材料的光学性质不受外界温度波动的干扰。这对于提高它的测量精度和可靠性至关重要。

  2. 冷热台在椭偏仪中的作用

  椭偏仪冷热台的核心作用是为仪器提供一个可调且稳定的温控环境。通过精确控制样品所在的温度,它能够有效消除由温度波动引起的误差,确保它能够获得准确的光学参数数据。它通常配备高精度温控系统,可以在宽广的温度范围内进行调节(从-20到150,甚至更宽),满足不同实验条件下的温度需求。

  对于一些温度依赖性强的材料,如有机薄膜、半导体薄膜等,它能够模拟其在实际工作环境中的温度变化,从而评估材料的温度响应特性。这使得仪器不仅可以进行常规的材料表征,还能在不同的温度条件下进行动态的光学特性分析。

TPYLR-500型椭偏仪冷热台

    

简要描述

椭偏仪冷热台,方便和椭偏仪结合实现高低温测量。另外配套安装底板,方便和椭偏仪位移台结合;配套:A2403(偏仪安装板)

 

椭偏仪冷热台参数表

制冷方式

液氮

温度范围

RT-600℃

-196550

显示精度

0.1℃

0.1℃

控温精度

0.1℃

0.1℃

样品区域

25*25mm

30*30mm

最大加热速率

200℃/min

50/min

最大冷却速率

自然冷却

-40℃/min

入射光角度

65°(57°-72°)70°

光孔直径

18mm

窗口材质

无应力石英玻璃

 



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