JKMDS-600型半导体冷热台

JKMDS-600型半导体冷热台

冷热台作为一种能够控制样品温度的实验设备，为半导体材料研究提供了有力支持。通过冷热台，科研人员可以在不同的温度条件下对材料进行性能测试，了解材料的热稳定性、导电性、光学性能等关键参数。此外，冷热台还能模拟材料在温度环境下的表现，为材料的应用提供重要的参考数据。

 JKMDS-600型半导体冷热台是使用 为广泛的THMS600型高精度冷热台的加强型。其宽泛的温度范围（-196°C到600°C）和升温速率（0.1到150°C/min），以及高精度（全程0.1°C）和高稳定（<0.1°C），使其在各行业得到广泛的应用。

其中的关键组件热台由银质加热块、测温元件以及密闭腔室组成。样品放置在0.17mm厚的盖玻片上，盖玻片放置在高度抛光的银质加热元件上。银质加热元件保证了的热传递和温度测量。精度高于0.1°C的铂电阻传感器提供了非常 J确和稳定的温度信号。样品腔室是气密的，气体阀可以控制腔室内的环境，即惰性气体或湿度。

可以自动储存150对XY轴坐标，全电动式移动。

 参数：

温度范围-196°C 到600 °C (-196℃需选择专用冷却系统)

可控加热速率0.1到150°C/min

通过LinkSys软件进行计算机控制

马达位置分辨率0.05µm

位置重复性<3um

150 X,Y 坐标可以存储

 大15mm X,Y 移动

手动或计算机操作

可定义计算机扫描区域

7, 10 或16mm样品夹持器可用

全部速度范围内消除样品抖动

与图像系统联用，记录样品测定全过程

通风的底部窗口消除冷凝现象

 新设计的上盖可以允许快速更换镜头

使用热台支架直接安装热台

物镜工作距离.1mm 到4.9mm

聚光镜 小工作距离12.7mm