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ZT-4A（X）型电滞回线测量仪是一代铁电材料参数测试仪适用于铁电薄膜、铁电体材料（既可块体材料）的电性能测量，可测量铁电薄膜电滞回线、I—V特性及开关特性，可测出具有非对称电滞回线铁电薄膜的Pr值。可测铁电体材料的电滞回线及I—V特性。
产品型号：厂商性质：生产厂家更新时间：2024-09-11访 问 量：678
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ZT-4A（X）型铁电材料电滞回线测量仪
重要声明： 为了保证产品质量，提高科学研究的水平，我们支持货到付款。
关键词:铁电材料参数测试仪,铁电子材料测试仪,铁电测试仪
一、产品介绍：
ZT-4A（X）型电滞回线测量仪是一代铁电材料参数测试仪适用于铁电薄膜、铁电体材料（既可块体材料）的电性能测量，可测量铁电薄膜电滞回线、I—V特性及开关特性，可测出具有非对称电滞回线铁电薄膜的Pr值。可测铁电体材料的电滞回线及I—V特性。
前言：铁电材料具有良好的铁电性、压电性、热释电性以及非线性光学等特性, 是当前*材料中非常活跃的研究领域之一，其研究热点正向实用化发展。
背景：高性能的铁电材料是一类具有广泛应用前景的功能材料,从目前的研究现状来看,对于具有高性能的铁电材料的研究和开发应用仍然处于发展阶段.研究者们选用不同的铁电材料进行研究,并不断探索制备工艺,只是到目前为止对于铁电材料的一些性能的研究还没有达到令人满意的地步.比如,用于制备铁电复合材料的陶瓷粉体和聚合物的种类还很单一,对其复合界面的理论研究也刚刚开始,铁电记忆器件抗疲劳特性的研究还有待发展。
一、产品介绍：
ZT-4A（X）型电滞回线测量仪是一代铁电材料参数测试仪适用于铁电薄膜、铁电体材料（既可块体材料）的电性能测量，可测量铁电薄膜电滞回线、I—V特性及开关特性，可测出具有非对称电滞回线铁电薄膜的Pr值。可测铁电体材料的电滞回线及I—V特性。
主要技术指标：
1.输出信号电压：：薄膜：0～±10V 陶瓷材料：0～±2000V（可以扩展±3000V）
2.输出信号频率：薄膜材料1-1000HZ，陶瓷：0-1Hz
3.电容范围：1000nf～ 100nf, 精度: ≤1%。
4.电流范围: 1nA～10A ,精度: ≤1%。
5、测试样品：0-20mm 5个
6.电流：1-10倍放大。
7.信号：1-20倍。
8.数据结口：USB或BNC接口。
9. 处理系统功能： 画出铁电薄膜的电滞回线，
定量得到铁电薄膜材料的饱和极化Ps、
剩余极化Pr、矫顽场Ec、漏电流等参数;
铁电薄膜材料的铁电疲劳性能、
铁电保持性能的测试，
电阻测量，
漏电流测量。
10.可以配合ZJ-3和ZJ-6型压电测试仪操作系统
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